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财联社-深度 10分钟前

“钼”成 300 层 +NAND 必选项 机构:沉积设备迎 10 亿美元增量市场

《科创板日报》8 月 24 日讯(编辑 宋子乔) 当地时间 8 月 23 日,半导体行业研究机构 SemiAnalysis 发文称,NAND 闪存制造正从钨转向钼,因为当 NAND 来到 300 层以上,钼是必选项

SemiAnalysis 分析,3D NAND 闪存堆叠层数突破 300 层后,钨字线在电阻、化学兼容性和深孔填充三方面均触及物理极限,钼成为强制替代材料。三星已于 2024 年量产,美光 2025 年跟进,SK 海力士计划 2026 年底推出 375 层钼工艺产品。其估计,钼在 NAND 总产能中的占比将从 2025 年的中个位数百分比,增长至 2027 年的约 30%

更进一步的,该机构提出,钼沉积设备将在明年迎来超 10 亿美元的新增市场。

该机构称,每一次从钨到钼的转换,都意味着需要新的沉积设备。SemiAnalysis 估计,仅 2027 年一年,NAND 钼沉积设备的销售额就将超过 10 亿美元,并随着 DRAM 和逻辑芯片的跟进,到 2030 年增长至约 20 亿美元 / 年

受益格局方面,Lam Research(泛林集团)最先获益,TEL(东京电子)紧随其后;AMAT(应用材料)、ASMI(ASM 国际)及 Naura(北方华创)则更多受益于后续 DRAM 和逻辑芯片的转型浪潮。SemiAnalysis 表示,完整的细分市场层面测算已纳入其前道设备(WFE)模型。

钨转钼重构 NAND 工艺流程 机构看好设备及零部件厂商

钼渗透率在高层数 NAND 中提升,本质是为延续 NAND 单位 Bit 成本下降曲线。

300 层 NAND 主要在结构上升级,聚焦超高深宽比通道孔刻蚀、多次 Stack 堆叠、晶圆翘曲控制以及 Overlay 精度控制。

375 层乃至 400 层以后,材料亟需升级,因钨字线会因为字线间距通道孔缩小面临 RC 延迟快速恶化、WF 残氟导致介质损伤、漏电失效率提升以及填充缺陷放大的问题。而钼凭借更低电阻率、无氟前驱体及无需阻隔层等优势,有望改善 RC 性能与器件可靠性,为字线和存储孔缩放提供工艺余量,从而延续高层数 NAND 的成本下降曲线。

中银证券表示,SK 海力士已完成 375 层 3D NAND 生产验证并计划 2026 年底量产,拟采用钼材料替代钨制作字线,继三星在 286 层第九代 3D NAND 中率先导入钼工艺后,两大存储龙头相继切换,钼替代钨趋势确立

然而,钼的材料加工更为复杂,因为必须以气体形式输送,且前驱物在室温下为固体,需要加热器以确保流动稳定性。

基于此,300 层以上 3D NAND 字线由钨切换为钼,并不是简单更换靶材或者更换气体材料,而是前驱体供给、ALD 沉积腔体、刻蚀、清洗、尾气处理整套工艺链条的重构,原有钨 CVD 产线硬件无法直接复用,将直接推动晶圆厂资本开支上行,同时设备、特种材料、零部件均迎来变化。

爱建证券表示,钼导入本质是一次全流程工艺重构,设备链受益有望沿 " 沉积及前驱体输送→ CMP 及清洗→刻蚀→量检测 " 路径传导,工艺难点由沉积向后处理环节延伸。其中——

沉积:成熟的 WF 钨工艺,Mo 沉积需重新建立高深宽比结构下的填充与缺陷控制工艺窗口,同时有望减少阻隔层使用,带动沉积设备及配套工艺升级;

输送:Mo 前驱体通常采用低挥发性固态源,与传统 WF 气态前驱体体系差异较大,需要新增气化装置、温控管路及精密供气系统,以保障前驱体稳定输送;

CMP:Mo 材料的氧化及表面化学特性不同于传统金属体系,需重新开发 CMP 研磨液和研磨垫,以满足平坦化、去除速率及缺陷控制要求;

清洗:Mo 导入后残留物及氧化物体系发生变化,高深宽比结构下金属残留和污染控制难度提升,有望推动相关湿法清洗设备及配套化学品验证导入;

刻蚀环节则需重新建立适配钼材料的工艺窗口,且 3DNAND 层数持续提升下,刻蚀选择性、侧壁形貌控制及层间均匀性要求进一步提高,有望带动相关刻蚀设备升级需求;

量检测:Mo 量产还需新增膜厚均匀性、填充缺陷、金属残留及电学可靠性等监控项目,有望带动薄膜量测、缺陷检测及电性测试等设备需求增长。

该机构称,NAND 工艺迭代核心从单纯堆叠层数转向材料—设备—工艺协同创新,新材料导入将持续催生沉积、刻蚀、清洗等关键设备迭代升级,Mo 字线导入将推动沉积、刻蚀、清洗等关键环节工艺升级,相关设备及零部件厂商有望受益。

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